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[发明专利]光器件性能的测试系统及测试方法-CN202211448822.7有效
发明人：许远忠;张林波 -专利权人：成都光创联科技有限公司
申请日： 2022-11-18 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请公开了光器件的性能测试方法及测试系统，属于光器件技术领域，一种光器件性能测试系统，包括：控制模块；测试模块，与控制模块信号连接，用于给待测试光器件提供测试环境；激光探测模块，与测试模块信号连接，用于接收待测试光器件发出的光信号，并将光信号转化为模拟信号，然后输入至测试模块，测试模块将模拟信号处理为数字信号并输入至控制模块；控制模块用于控制测试模块给待测试光器件施加多组驱动电流，以接收到多组待测试光器件发出的光信号，进而计算出光器件的阈值电流和扭折变化率本申请提供了一种测试光器件阈值电流和扭折变化率的测试方法和测试系统。
器件性能测试系统方法

[发明专利]光器件测试电路-CN202111015237.3有效
发明人：金海亮;王四俊;熊福胜;张向辉;伍林;具佶勋 -专利权人：深圳市力子光电科技有限公司
申请日： 2021-08-31 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种光器件测试电路，该光器件测试电路包括:通用串行总线USB接口单元、控制单元、电流测试单元、光功率测试单元、第一驱动单元和第一光器件接口单元；其中，第一驱动单元分别与控制单元和第一光器件接口单元连接；电流测试单元和光功率测试单元均与第一光器件接口单元连接；电流测试单元用于获取待测试光器件的电流参数对应的电压信号；光功率测试单元用于获取待测试光器件的光功率值对应的电压信号；USB接口单元、电流测试单元和光功率测试单元均与控制单元连接这样可以通过控制单元同时获取电流参数对应的电压信号和光功率值对应的电压信号，对待测试光器件的电流参数和光功率值同时进行测试，由此提高光器件的测试效率。
器件测试电路

[实用新型]一种光器件测试装置-CN201921730088.7有效
发明人：章林华;翟因敏 -专利权人：深圳市迅特通信技术有限公司
申请日： 2019-10-14 - 公布日： 2020-04-21 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开一种光器件测试装置，该光器件测试装置包括用于定位光器件的定位座，用于连接光器件对光器件进行测试的测试板、光纤接头，用于对光器件测试温度进行控制的温控组件，用于调整测试板位置的调位组件，以及用于将光器件的柔性电路板与测试板压合的顶升组件；所述定位座设于温控组件上，所述测试板设于调位组件上。根据本实用新型的光器件测试装置，通过定位座对光器件进行定位，通过调位组件调整测试板的位置，通过顶升组件将光器件的柔性电路板与测试板压紧，通过温控组件调整光器件的测试温度；能够在不同环境温度下对光器件进行测试，且不用将光器件和测试板进行焊接，提高了测试效率。
一种器件测试装置

[发明专利]一种Combo光器件的测试方法及测试装置-CN202111405451.X有效
发明人：马超;石杏;黄秋元;周鹏 -专利权人：武汉普赛斯电子技术有限公司
申请日： 2021-11-24 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： H04B10/079 文献下载
摘要：本发明提供一种Combo光器件的测试方法及检测装置，在对Combo光器件进行测试时，将Combo光器件与测试板相连接，同时将供电模块、误码仪光发射模块、光分路模块以及测试模块与该测试板进行连接，然后，通过供电模块向该Combo光器件提供驱动电流并使光发射模块发射光信号，光发射模块向Combo光器件提供光信号，并形成电信号，进而在根据上述光信号和电信号对该Combo光器件的各项性能参数进行测试。整个测试工序均可在该测试板上一体化测试完成，无需分别对不同的Combo光器件端口多工步测试，从而有效的简化了测试的工艺，并且提高了测试的精度。
一种 combo 器件测试方法装置

[发明专利]光器件测试方法以及系统-CN202110836580.8在审
发明人：张行;吴天书;杨现文;李林科;张健 -专利权人：武汉联特科技股份有限公司
申请日： 2021-07-23 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： H04B10/079 文献下载
摘要：本发明涉及光器件测试技术领域，提供了一种光器件测试方法，包括如下步骤：S1，将光器件的电路拓展到测试板上；S2，采用夹具将光器件固定，使光器件的FPC与测试板的焊盘对准夹好，完成上电；S3，接好测试板和误码仪，并采用误码仪配置交流调制信号，连接好测试设备，点击PC电脑开始测试。还提供一种光器件测试系统，包括用于配置交流调制信号的误码仪、集成有光器件的电路的测试板以及用于锁定光器件以完成测试板的上电的夹具，误码仪与测试板连接。本发明采用误码仪配置交流调制信号，在调制信号下进行测试，突破了原有的直流测试系统的限制，使得测试结果非常准确，光模块制程前端对光器件进行甄别和挑选可以节约成本、提高良率。
器件测试方法以及系统

[发明专利]测试装置、校正器件、校正方法及测试方法-CN201510056916.3在审
发明人：増田伸;原英生;安高刚 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2015-02-03 - 公布日： 2015-09-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明的测试装置对具备光接口的多个被测器件简便地进行测试。本发明提供一种测试装置及测试方法，该测试装置包括：光测试信号产生部，产生光测试信号；光信号供给部，将光测试信号供给至多个被测器件中的测试对象的被测器件；第一光开关部，在多个被测器件所输出的光信号中选择由测试对象的被测器件输出的光信号；及光信号接收部，接收所选择的光信号。
测试装置校正器件方法

[发明专利]应用于光模块核心光器件的测试板及其使用方法-CN202110770201.X有效
发明人：黄勇;高小燕;廖静 -专利权人：四川天邑康和通信股份有限公司
申请日： 2021-07-06 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： H04B10/073 文献下载
摘要：本发明涉及光器件测试技术领域，应用于光模块核心光器件的测试板使用方法，包括以下步骤：步骤S1:搭建光器件测试系统，步骤S2:预热光器件测试系统T时间，进行光器件预热参数测试，输出预热参数，步骤S3:当预热参数不满足设定值时，执行步骤S2，当测试结果满足设定值时，执行步骤S4；步骤S4:校准光器件测试系统，根据校准结果设置测试参数配置文件；步骤S5:根据测试参数配置文件进行待测光器件的性能测试，输出测试结果。考虑预热时间对光器件性能的影响，实现了RX端、TX端的精确校准，减少测试误。
应用于模块核心器件测试及其使用方法

[实用新型]一种光器件测试装置及测试夹具-CN201920041537.0有效
发明人：程立本;宋小平 -专利权人：武汉电信器件有限公司
申请日： 2019-01-10 - 公布日： 2019-08-16 - 主分类号： H04B10/07 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光器件测试装置及测试夹具，光器件测试装置在固定座上设置第一固定组件、第二固定组件和测试组件，第一固定组件用于固定待测光器件在固定座上；第二固定组件用于将测试组件固定在固定座上，起到定位和防止晃动的作用；测试组件用于待测光器件软带的夹持，测试组件设置有连接器，连接器的一端与待测光器件的软带耦合连接，通过待测光器件软带插入连接器即可确保待测光器件软带的可靠夹持。光器件测试夹具通过设置两个挡块起到对待测光器件测试装置的导向和定位作用，通过设置在第二测试板上的插座的插槽实现与第一测试板上的金手指耦合连接，实现待测光器件的快速加电，达到了操作方便快捷的目的。
测光器件光器件测试测试组件固定组件软带固定座连接器测试夹具耦合连接测试板夹持夹具本实用新型插入连接器导向和定位测试装置防止晃动金手指插座插槽挡块加电

[发明专利]一种光模块、光器件状态监控系统-CN201711122938.0在审
发明人：周忠山;刘小煜;敬良才;黄首甲;张宏斌;谢家宝;田勇;黄安珠 -专利权人：东莞铭普光磁股份有限公司
申请日： 2017-11-14 - 公布日： 2018-04-27 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种光模块、光器件状态监控系统，光模块、光器件温度循环测试系统及光模块、光器件老化测试系统。其中，光模块、光器件状态监控系统包括主机、测试板、待测光模块或光器件、光器件及固定装置；主机分别与各测试板通过两条双绞线相连，组成RS485总线网络，采用带地址、固定字节长度的通信协议通信；每个测试板包括主MCU、副MCU及连接器，主MCU用于与主机进行组网通信，副MCU用于测试监控待测光模块、光器件的性能参数，并进行通信；每个测试板与待测光模块、光器件相连；各测试板间并联，与主机组成总线网络。本申请实现了通过控制一台主机对大批量光模块或光器件的工作状态进行实时监控，降低了监控系统的组建成本和维护使用成本。
一种模块器件状态监控系统

[实用新型]一种光器件测试装置-CN201821675603.1有效
发明人：赖人铭 -专利权人：成都英思嘉半导体技术有限公司
申请日： 2018-10-16 - 公布日： 2019-05-24 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种光器件测试装置，包括测试插座，用于可拆卸连接被测试的光器件，测试插座包括绝缘壳体，绝缘壳体上设有散热块和若干个插针，每个插针用于可拆卸连接光器件上对应的针脚；测试电路板，其上设有若干个测试触点，测试插座连接于测试电路板的正面，测试电路板的背面设有散热板，散热块和所有插针贯穿测试电路板，散热块连接散热板，所有插针连接对应的测试触点。运用本实用新型的一种光器件测试装置，测试插座上设有散热块，散热块连接测试电路板上的散热板，当被测试的光器件与测试插座连接并开始通电测试后，光器件产生的热量导入测试插座，并由散热块传导至散热板散热，能够有效降低光器件的温度，从而保证光器件测试的准确性。
测试插座散热块光器件测试电路板光器件测试散热板插针本实用新型可拆卸连接测试触点绝缘壳体针脚电路板测试连接测试通电测试散热传导背面贯穿保证

[发明专利]一种可变温度且可调角度的光伏器件电流电压测试平台-CN201711409994.2在审
发明人：曾广根;黎兵;张静全 -专利权人：四川大学
申请日： 2017-12-23 - 公布日： 2018-06-29 - 主分类号： H02S50/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种面向光伏器件测试的可变温度且可调角度的电流电压测试平台。通过将一定尺寸的光伏器件放在本发明测试平台的凹槽内，光伏器件正极与测试正极线相连，光伏器件负极与测试负极线相连，将平台升至测试校准光强位置，然后按照光伏器件户外气象条件，设置平台不同的温度与不同的角度，使模拟光源入射线与光伏器件表面呈不同的夹角，待测试平台监控温度与光伏器件表面监控温度一致时，即可进行包括电流电压特性在内的光伏器件性能测试。本发明涉及的测试平台具有成本低廉，操作简单，温控与角度调整精度好，功能兼容等优点，特别适合于光伏器件的户外模拟测试，能够得到与光伏器件实际应用状况一致的测试结果，能够简化测试过程，可以满足多平台搭建和多种性能测试的要求
光伏器件测试平台测试电流电压测试性能测试可变可调户外电流电压特性正极表面监控测试过程角度调整模拟测试模拟光源气象条件温度一致应用状况负极多平台负极线正极线校准光强温控兼容监控

[发明专利]器件接口装置、测试装置及测试方法-CN201410328858.0有效
发明人：原英生;增田伸 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2014-07-11 - 公布日： 2017-04-26 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明提供一种器件接口装置、测试装置及测试方法，所述器件接口装置搭载具有光接口的被测器件，并包括器件搭载部，搭载被测器件；光连接器，与被测器件所具有的光接口相连接；以及光信号检测部，在将器件搭载部上搭载的被测器件的光接口与光连接器相连接之前，对从光接口及光连接器的至少一方输出的光信号进行检测。测试装置容易执行对具有光接口的被测器件的测试。
器件接口装置测试方法

[发明专利]一种用于提高光伏器件量子效率测试精确度的方法-CN202110978869.3在审
发明人：苏杭;毛丽;林俊良;林金汉;林金锡 -专利权人：常州亚玛顿股份有限公司
申请日： 2021-08-25 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： H02S50/15 文献下载
摘要：本发明公开一种用于提高光伏器件量子效率测试精确度的方法，包括：S1、选用低反射率的材料加工形成一个盖板；S2、在盖板上开设测试口和若干探针口，得到测试板；S3、将待测的光伏器件样品放置于量子效率测试台中；S4、将测试板覆盖于光伏器件样品上，使探针口对应在光伏器件的栅线上，使测试口对应于光伏器件中光伏响应敏感的区域；S5、将量子效率测试仪的探针点在探针口处栅线上，将测试光源照射在测试口光伏器件样品的响应区域内；S6、最后进行光伏器件量子效率测试。本发明通过设计与硅片电池和小型光伏器件样品相匹配的辅助测试用低反射测试板，减少测试光的反射，提升量子效率测试结果的准确性，减少因光线重复反射带来的测试误差。
一种用于提高器件量子效率测试精确度方法

[发明专利]一种材料弹性模量的检测装置及方法-CN202111403746.3有效
发明人：陈杰 -专利权人：东南大学成贤学院
申请日： 2021-11-24 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01N3/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种材料弹性模量的检测装置及方法，所述检测装置包括测试样品、测试光路器件和测力器件，所述测试光路器件和测力器件均固定于水平面上，所述测试样品的一端通过夹子与测力器件相连，测试样品的另一端通过夹子与测试光路器件相连，测力器件和测试光路器件对测试样品施加拉力或挤压力，使得测试样品发生形变，测力器件读取拉力值，测试光路器件计算测试样品发生的形变量。
一种材料弹性模量检测装置方法

[发明专利]一种光响应器件的测试装置及系统-CN202010151868.7在审
发明人：刘桂林;邵剑波;席曦;周欢萍;陈棋;于海民;王怡淼 -专利权人：江南大学
申请日： 2020-03-06 - 公布日： 2020-05-15 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及光响应器件的测试技术领域，具体公开了一种光响应器件的测试装置，其中，包括：瞬态光源装置、准直光路和测试平台，所述准直光路设置在所述瞬态光源装置和所述测试平台之间；所述瞬态光源装置用于发出能够激发待测试光响应器件的瞬态光源；所述准直光路能够将所述瞬态光源装置发出的瞬态光源的光斑能量均匀化；所述测试平台能够对所述准直光路的出射的瞬态光进行校正，根据校正后的瞬态光对待测试光响应器件进行测试得到测试信号，并将所述测试信号发送至上位机本发明还公开了一种光响应器件的测试装置及系统。本发明提供的光响应器件的测试装置具有成本低且易于使用的优势。
一种响应器件测试装置系统

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